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太赫兹显微成像仪

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产品简介

主要面向半导体检测分析领域,是通过研究半导体的结构、载流子浓度变化来进行半导体结构和材料设计的应用研究型产品。

创新特色

  • 基于原子力显微镜技术(Atomic Force Microscope,AFM)的创新的超高分辨率光学显微镜和光谱分析仪
  • 集透射成像、反射成像功能于一体

技术参数

  • 咨询专线

    021-55115206、18621284409
    (太赫兹工业成像事业部)
    021-58225209、18917763971
    (太赫兹光谱检测事业部)
    18942579536
    (太赫兹光电感知事业部)

  • 传真

    021-55805248

  • 地址

    上海市杨浦区国权北路1688弄A7座5楼

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